点击图片查看原图ICP光谱仪是什么构成的？
一台典型的ICP光谱仪主要由一个光学平台和一个检测系统组成。包括以下几个主要部分：
1. 入射狭缝: 在入射光的照射下形成光谱仪成像系统的物点。
2. 准直元件: 使狭缝发出的光线变为平行光。该准直元件可以是一独立的透镜、反射镜、或直接集成在色散元件上，如凹面光栅光谱仪中的凹面光栅。
3. 色散元件: 通常采用光栅，使光信号在空间上按波长分散成为多条光束。
4. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狭缝的像，其中每一像点对应于一特定波长。
5. 探测器阵列：放置于焦平面，用于测量各波长像点的光强度。该探测器阵列可以是CCD阵列或其它种类的光探测器阵列。
ICP光谱仪的校正方法
波长校正
波长校正是为使实际波长同检测器检出波长相一致。光谱仪的磁盘驱动器及打印机清出灰尘之后，要在机械活动部件滴加少许仪表油。大致可分为两分部：首先通调整仪器来对光谱仪进行校正，然后是通过漂移补偿的办法减少因环境的变换导致谱线产生位移。光谱校正是仪器实际测得的波长与理论波长之间出现的偏差别进行的校正，一般是通过测试一系列元素的波长来进行校正，校正后所得数据即为对光谱彼进行校正的校正数据。
漂移补尝是因为光普仪光谱线位移与波长、温度、湿度、压力变化之间有非线性函数关系，这种函数关系具有普遍适用性。ICP光谱仪光谱分析今天ICP光谱仪小编跟您讲讲光谱分析，由于每种原子都有自己的特征谱线，因此可以根据光谱来鉴别物质和确定它的化学组成。其中零级光谱线随波长、温度变化产生的位移。漂移补偿是一种常规监视过程，其原理是在进样间歇期间，监测多条氢线波长，将实际值与理论值相比较，并对误差进行补偿。
ICP光谱仪主要用于微量元素的分析，可分析的元素为大多数的金属和硅、磷、 硫等少量的非金属，共 72 种。ICP光谱仪的校正方法分析校正分析校正是为了让所测元素浓度与仪器所检测到的光强度建立起联系，就是我们常说的做标准曲线，输^事先配好的标样值，再让仪器对其进行检测，让检测值与浓度之间建立起关系曲线，未知样品浓度按照该曲线及所。广泛地应用于质量控制的元素分析，超微量元素 的检测，尤其是在环保领域的水质监测。还可以对常量元素进行检测，例如组分 的测量中，主要成分的元素测定。
ICP光谱仪的校正
ICP光谱仪校正的目的是消除环境温度造成的光学系统漂移与机械震动造成的机械位移。ICP光谱仪的特点1、炉中取的样品只要打磨掉表面氧化皮,固体样品即可放在样品台上激发,免去了化学分析钻取试样的麻烦。通常，在仪器安装调试过程中首先要进行光学系统校正；在仪器正常使用过程中根据环境温度的条件适当进行光学系统校正。 在PRODIGY仪器中，由于仪器本身有恒温系统，操作人员只要控制仪器达到恒温条件，即可正常进行分析测量，无须频繁校正光学系统。
波长校正
在使用任何一个元素、任何一个波长进行分析测量之前，都要做波长校正。波长校正的目的是：对事先存储在谱线库中的理论波长坐标位置进行修正、保证实际使用的波长坐标位置准确。
仪器安装调试以后，波长校正不需要经常做。如果实验室温度变化较大，应适当进行波长校正。
